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  • 產品詳情
    • 產品名稱:多功能方阻儀

    • 產品型號:FT-343
    • 產品廠商:ROOKO
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    簡單介紹:
    FT-343多功能方阻儀廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試FT-343多功能方阻儀
    詳情介紹:

    FT-343多功能方阻儀

    多功能方阻儀廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試


    多功能方阻儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,


    多功能方阻儀并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸**、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,


    多功能方阻儀并保存和打印數據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.



    多功能方阻儀設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高**度,特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。


    多功能方阻儀參數資料

    1.方塊電阻范圍:10-32×105Ω/□

    2.電阻率范圍:10-42×106Ω-cm

    3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

    4.電流精度:±0.2%讀數

    5.電阻精度:≤0.3%

    6.顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

    7.測試方式: 雙電測量

    8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

    9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

    10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

    11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

    FT-343多功能方阻儀

     

    ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業.

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